問題文
センサーからあり得ない値が来たときの反応を確かめたいテスト担当者が、どこで欠陥を挿入するかを決めようとしている。外部コンポーネントの欠陥の挿入として、最も適切なものはどれか。
選択肢
- アプリケーションの欠陥を HiL テスト環境の FIU を使って再現できること
- 外部コンポーネントの欠陥を HiL テスト環境の FIU を使って再現できること
- ソフトウェアの欠陥を HiL テスト環境の FIU を使って再現できること
- 外部コンポーネントの欠陥を HiL テスト環境の ラッパー を使って再現できること